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當前位置：首頁產品中心熱電電磁測試儀TFA-薄膜分析儀
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熱電電磁測試儀
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林賽斯TFA L59 薄膜分析儀，是一個高度集成的測量平臺。其獨特的預結構化芯片設計，支持對通過多種方法制備的5nm至25μm薄膜，在單次測量中（-160°C至280°C）即可同時、同向獲取面內導熱系數(shù)、電導率及塞貝克系數(shù)等關鍵參數(shù)，極大簡化了半導體、陶瓷等薄膜材料的研發(fā)表征流程。
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